3D画像検査機 MV-3 OMNI

《日本ミルテック 3D卓上外観検査機》

機器情報  日本ミルテック MV-3 OMNI

過剰検出の低減を実現した基板実装向けAOI装置

日本ミルテック MV-3 OMNI
ICリードの浮き チップ部品等部品の浮き、傾き

3D(高さ)で不良検出力が向上する検査項目

  1. ICリードの浮き
  2. チップ部品等部品の浮き、傾き
  3. 部品の有無(欠品検査)

8段カラー照明による不良箇所を際立たせることで検出力を向上

8段カラー照明による不良箇所を際立たせることで検出力を向上

同軸落射照明を実現し、隣接する背の高い部品の影響を軽減。検査力が向上しています。

同軸落射照明を実現し、隣接する背の高い部品の影響を軽減。検査力が向上しています。

※同軸落射照明
ハーフミラーを介してレンズと同軸上から照射する同軸落射照明。
光沢面の正反射光を入光し、刻印・傷や端面エッジでの拡散光を逃がすことで、検出対象と背景のコントラストを明確にし、判別します

高速検査と画質向上を実現
4方向に18Mega Pixelの斜視カメラを搭載し、TOPカメラで検査困難な場所も自動検査が可能になりました。

また4台のカメラで撮影した情報の転送を並列処理する事で時間の短縮、画質の向上もしました。

目視の工数を減らし、試作でも3D検査を行う事でこれまで以上に安心安全な基板をお届けします。