《日本ミルテック 3D卓上外観検査機》 機器情報 日本ミルテック MV-3 OMNI 過剰検出の低減を実現した基板実装向けAOI装置 3D(高さ)で不良検出力が向上する検査項目 ICリードの浮き チップ部品等部品の浮き … 続きを読む →
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