月: 2019年5月

《日本ミルテック ３D卓上外観検査機》 機器情報　 日本ミルテック　MV-3　OMNI過剰検出の低減を実現した基板実装向けAOI装置 ３D（高さ）で不良検出力が向上する検査項目 ICリードの浮き チップ部品等部品の浮き、 … 続きを読む