《日本ミルテック ３D卓上外観検査機》
機器情報 日本ミルテック MV-3 OMNI
過剰検出の低減を実現した基板実装向けAOI装置
３D（高さ）で不良検出力が向上する検査項目
- ICリードの浮き
- チップ部品等部品の浮き、傾き
- 部品の有無（欠品検査）
8段カラー照明による不良箇所を際立たせることで検出力を向上
同軸落射照明を実現し、隣接する背の高い部品の影響を軽減。検査力が向上しています。
※同軸落射照明
ハーフミラーを介してレンズと同軸上から照射する同軸落射照明。
光沢面の正反射光を入光し、刻印・傷や端面エッジでの拡散光を逃がすことで、検出対象と背景のコントラストを明確にし、判別します
高速検査と画質向上を実現
4方向に18Meｇa Pixelの斜視カメラを搭載し、TOPカメラで検査困難な場所も自動検査が可能になりました。
また4台のカメラで撮影した情報の転送を並列処理する事で時間の短縮、画質の向上もしました。
目視の工数を減らし、試作でも３D検査を行う事でこれまで以上に安心安全な基板をお届けします。